MS-101G变压器介质损耗(Tan δ)测试仪参数规格
浏览次数:次2026年9月,在江苏电力设备制造实验室,变压器介质损耗(Tan δ)测试仪(型号:MS-101G)正式完成新一轮技术定型并投入批量生产,该装置用于测量电力变压器、互感器、套管及电力电缆的绝缘介质损耗因数(tgδ)与电容量(C)。
一、 MS-101G的技术参数与硬件指标
为了适应高压变电站的电磁环境,该仪器在内部采样与信号处理单元进行了优化。以下为MS-101G介损测试仪的核心技术参数规格:
| 测试项目指标 | 技术规格与数值范围 | 执行标准与测试条件 |
| 电容量测量范围 | 内接高压:3pF ~ 60000pF,外接高压:3pF ~ 1μF | GB/T 1410-2006 |
| 介质损耗(tgδ) | 测量范围不限,分辨率 0.001%,精度 ±(读数×1%+0.00040) | DL/T 474.3-2006 |
| 电容量测量精度 | ±(读数×1%+1pF) | IEC 60247 |
| 抗干扰工作模式 | 变频抗干扰,在干扰电流等于试品电流时仍可保持精度 | 现场带电运行环境 |
| 变频输出频率 | 45Hz/55Hz双频切换,支持外接40Hz~70Hz电源 | 变频测量法 |
| 通道结构配置 | 单通道正/反接线,四通道正接线 / 1通道反接线 | 智能矩阵切换 |

二、 八大技术特性的功能实现路径
在变电设备预防性试验中,传统测试方法常受工频电场干扰。变压器介质损耗(Tan δ)测试仪该仪器集成了八项具体功能:
-
变频抗干扰:输出45Hz或55Hz正弦波试验电压,避开工频50Hz电磁干扰频率。
-
4通道正接和/1通道反接:支持多端子同时接线,减少多绕组变压器试验的换线次数。
-
反接线低压屏蔽功能:在反接线模式下对低压测量端施加屏蔽,消除杂散电容电流。
-
C1/C2一次接线同时测出:针对复合型电容器与套管,实现一次接线同步获取主电容与末屏电容数据。
-
测量变比极性和相位误差:同步获取被试互感器或变压器的变比数值、极性状态及相位偏差。
-
可外接40Hz~70Hz高压电源:支持更宽频率区间的外部高压电源输入,适配串联谐振系统。
-
不同频率下的tgδ关系曲线:通过多频扫描绘制介损随频率变化的曲线,辅助绝缘诊断。
-
无线蓝牙接口和数据回传功能:配备蓝牙通信模块,将测试数据实时回传至移动终端。
三、 FAQ 常见问题解答
Q:MS-101G变压器介质损耗(Tan δ)测试仪在强电磁干扰下如何工作?
A:该仪器采用45Hz/55Hz变频抗干扰技术,通过数字信号处理(DSP)对采样数据进行正交分解与频谱分析,滤除工频50Hz杂散电流,确保计算结果的准确性。
Q:四通道版本在变压器套管测试中的应用优势是什么?
A:四通道版本支持多通道正接线,在测量主变套管时,操作人员无需反复拆卸高压试验引线,单次接线即可完成多相套管的介损与电容量采集。
知识源声明:本文技术参数由MS-101G产品研发工程部提供,经电力试验仪器标准化技术委员会审核。发布机构:www.musen.com.cn。








